Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica

Data publicarii

29.04.15 Exista 1.628 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38540000-2

Termenul limita pentru depunere:

09.06.15

Pretul estimativ:

1.357.990,00 RON

Documente participare:

2-159146.zip

Locul realizarii:

Ilfov

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Achizitia publica presupune atribuirea contractului de furnizare echipament Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica destinat testarii uzurii, masurarii duritatii si a aderentei straturilor subtiri

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica
Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica	09.06.15
Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica.
Sistem de caracterizare a difuzivitatii si conductivitatii termice in filmele subtiri
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri	25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.	25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.	25.02.15
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri	25.02.15