SISTEM DUAL MICROSCOPIE AFM-RAMAN, MICROSCOP SEM CU SISTEM EBL, SISTEM COMPLEX PENTRU MICRODIFRACTIE, SISTEM DE CARACTERIZARE SEM/STEM, SPECTROMETRU DE MASA, ELIPSOMETRU

Data publicarii

19.03.15 Exista 84.070 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38519200-8 38433100-0 38510000-3 38530000-9 39300000-5

Pretul estimativ:

17.895.000,00 RON

Locul realizarii:

Bucureşti

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Lotul 1. Sistem de caracterizare SEM/STEM, Microscop SEM cu sistem EBL (E-Beam Lithography) Lotul 2. Sistem complex pentru microdifractie Lotul 3. Sistem dual microscopie AFM-RAMAN Lotul 4. Spectrometru de masa Lotul 5. Elipsometru

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
SISTEM DUAL MICROSCOPIE AFM-RAMAN, MICROSCOP SEM CU SISTEM EBL, SISTEM COMPLEX PENTRU MICRODIFRACTIE, SISTEM DE CARACTERIZARE SEM/STEM, SPECTROMETRU DE MASA, ELIPSOMETRU	24.11.14
Sistem dual microscopie AFM-Raman, microscop sem cu sistem EBL, sistem complex pentru microdifractie, sistem de caracterizare SEM/STEM, spectrometru de masa, elipsometru.
Sistem dual microscopie Afm-Raman, microscop Sem cu sistem EBL, sistem complex pentru microdifractie, sistem de caracterizare Sem/Stem, spectrometru de masa, elipsometru.	24.11.14
Sistem dedicat evidențierii urmelor papilare prin metode și tehnici neinvazive de metalizare în vid - lot 1, sistem pentru caracterizare morfologică și elementară, utilizând metode și tehnici neinvazive de spectrometrie de raze x - lot 2	14.03.22
Echipamente de cercetare - nanomanipulatoare, modul SEM nanoindentare si statie curatire UV pentru probe SEM si STEM.
Licitatii Viitoare - Echipamente de cercetare - nanomanipulatoare, modul SEM nanoindentare si statie curatire UV pentru probe SEM si STEM (Plan Anual de Achizitii 2018 - extras)	30.09.18
Sistem dedicat evidenţierii urmelor papilare, sistem pentru caracterizare morfologică şi elementară, linie automatizata de procesare rapidă a probelor biologice de referinţă recoltate de la persoane	21.12.21
Sistem dedicat evidenţierii urmelor papilare prin metode şi tehnici neinvazive de metalizare în vid - lot 1, sistem pentru caracterizare morfologică şi elementară, utilizând metode şi tehnici neinvazive de spectrometrie de raze X - lot 2	14.03.22
Sistem dedicat evidenţierii urmelor papilare, sistem pentru caracterizare morfologică şi elementară, linie automatizata de procesare rapidă a probelor biologice de referinţă recoltate de la persoane
Sistem dedicat evidenţierii urmelor papilare prin metode şi tehnici neinvazive de metalizare în vid - lot 1, sistem pentru caracterizare morfologică şi elementară, utilizând metode şi tehnici neinvazive de spectrometrie de raze X - lot 2