Feedback
I.D.: 5786451

Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri

Data publicarii
24.03.15 Exista 72.858 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.
Coduri CPV
38530000-9
Pretul estimativ:
2.110.000,00 RON
 
 
Locul realizarii:
  • Descarca
  • Tipareste
  • Observatii
    Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
  • Trimite
Descriere:
Achizitia publica presupune atribuirea contractului de furnizare echipament “Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri” destinat cercetarilor avansate de laborator pentru pulberi si filme subtiri
Text integral:
Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!
 

De ce licitatie-publica.ro?

  • Oportunitati de afaceri selectionate
    individual

  • Anunturi scanate si actualizate
    din peste 3200 surse publice si private

  • Manager de cont personal - chiar si
    in timpul testarii gratuite

  • Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul Data inchiderii
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri 25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri 25.02.15
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.  
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri. 25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri. 25.02.15
Amenajare Parte Laborator De Analiza Structurala - Lans - Amplasament "Sistem De Caracterizare Structurala Cu Difractie De Raze X De Rezolutie Inalta (XRD-HR), CPV: 45421141-4 02.11.15
Difractometru de raze X cu viteză mare de achiziţie a datelor pentru analiza structurală a materialelor policristaline la temperaturi de la -190 °C la 600 °C  
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive 21.09.17
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive  
Sistem versatil de imagistică avansată și analiză structurală prin difracție/împrăștiere de raze X