Feedback
I.D.: 24734156

Sistem de caracterizare a difuzivitatii si conductivitatii termice in filmele subtiri

Data publicarii
15.12.17 Exista 68.644 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.
Coduri CPV
38400000-9
Pretul estimativ:
487.335,00 RON
 
 
Locul realizarii:
  • Descarca
  • Tipareste
  • Observatii
    Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
  • Trimite
Descriere:
Sistemul de caracterizare a difuzivitatii si conductivitatii termice in filmele subtiri”, cu grosimi de la 80 nm pana la 20µm, va fi utilizat pentru studiul proprietatilor fizice (termice) Tehnica de masurare trebuie sa fie non-contact si non-distructiva si sa permita incalzirea probei analizate. Deoarece, conductivitatea termica in filmele subtiri prezinta de cele mai multe ori o anizotropie in functie de directia cristal...
Sistemul de caracterizare a difuzivitatii si conductivitatii termice in filmele subtiri”, cu grosimi de la 80 nm pana la 20µm, va fi utilizat pentru studiul proprietatilor fizice (termice) Tehnica de masurare trebuie sa fie non-contact si non-distructiva si sa permita incalzirea probei analizate. Deoarece, conductivitatea termica in filmele subtiri prezinta de cele mai multe ori o anizotropie in functie de directia cristalina pe care se masoara, determinarea cu acuratete a acestor valori este absolut necesara.
Text integral:
Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!
 

De ce licitatie-publica.ro?

  • Oportunitati de afaceri selectionate
    individual

  • Anunturi scanate si actualizate
    din peste 3200 surse publice si private

  • Manager de cont personal - chiar si
    in timpul testarii gratuite

  • Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul Data inchiderii
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri  
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.  
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri 25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri. 25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri. 25.02.15
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri 25.02.15
Consultarea pietei in vederea initierii procedurii de achizitie a proiectarii şi executiei la scara pilot a unui rezervor pilot pentru testarea caracteristicilor functionale ale PCM-urilor microincapsulate, cu aplicatii in domeniul energeticii neconventionale si stocarii energiei termice. 11.06.18
Achizitia unui microsscop electronic cu scanare (SEM) 05.08.16
KIT APARAT MULTIPARAMETRIC PORTABIL;TERMOMETRU DIGITAL 08.09.15
Sistem modular de caracterizare mecanica/electrochimica a materialelor, la scara micro si mezoscopica 09.06.15