NL-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu (pFIB — SEM)

Data publicarii

07.06.19 Exista 609 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38512100 38510000

Termenul limita pentru depunere:

08.07.19 16:00

Locul realizarii:

NL328

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Microscoape ionice Microscoape

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
NL-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu (pFIB — SEM)	08.07.19
NL-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu (pFIB — SEM)	18.07.19
Țările de Jos-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu (pFIB — SEM)
Țările de Jos-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu
Țările de Jos-Petten: Furnizarea și întreținerea unui microscop electronic cu scanare cu emisie prin efect de câmp — cu fascicul de ion axat pe plasmă cu fascicul dublu	31.10.19
NL-Petten: Furnizarea unui sistem de testare micromecanică in situ pentru microscopul electronic cu scanare
NL-Petten: Furnizarea unui sistem de testare micromecanică in situ pentru microscopul electronic cu scanare
Microscop electronic de scanare pentru efectuarea imagisticii și analizei de înaltă rezoluție în timpul testării micromecanice	22.10.21
Microscop electronic de scanare pentru efectuarea imagisticii și analizei de înaltă rezoluție în timpul testării micromecanice
Microscop electronic de scanare pentru efectuarea imagisticii și analizei de înaltă rezoluție în timpul testării micromecanice