Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi -195 ÷ +1000°C

Data publicarii

16.12.14 Exista 83.346 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38511200 51430000 80510000

Locul realizarii:

Ilfov

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Microscoape electronice cu transmisie, Servicii de instalare de echipament de laborator, Servicii de formare specializată

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi —195 ÷ +1000 oC.	22.04.15
Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi -195 ÷ +1 000°C
Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi -195 ÷ +1000 oC
Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi -195 ÷ +1000 oC	22.04.15
Instalatie pentru modificarea/alierea suprafetelor prin retopire cu ajutorul unui fascicul pulsat de intensitate mare de electroni (IPEB)
Echipament de litografie de electroni – Instalatie de rezolutie ridicata (line width > 20 mm)
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (sem-fib)	21.11.23
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice şi accesorii, cu transport, instalare, punere în funcţiune, instruire
Instalatie pentru modificarea/alierea suprafetelor prin retopire cu ajutorul unui fascicul pulsat de intensitate mare de electroni (IPEB)	15.06.15
Instalatie pentru modificarea/alierea suprafetelor prin retopire cu ajutorul unui fascicul pulsat de intensitate mare de electroni (IPEB)