Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (sem-fib)

Data publicarii

20.10.23 Exista 3.818 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38511100 51430000 79632000

Termenul limita pentru depunere:

21.11.23 15:00

Pretul estimativ:

1.260.000,00 EUR

Locul realizarii:

Ilfov

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Microscoape electronice cu scanare Installation services of laboratory equipment Personnel-training services

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (SEM-FIB)
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (SEM-FIB)	21.11.23
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (SEM-FIB)
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) de înaltă rezoluție echipat cu detector de raze X cu dispersie energetică (EDX) și incintă de izolare nucleară, pentru Laboratorul de criminalistică nucleară	22.10.20
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) de înaltă rezoluție echipat cu detector de raze X cu dispersie energetică (EDX) și incintă de izolare nucleară, pentru Laboratorul de criminalistică nucleară
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) de înaltă rezoluție echipat cu detector de raze X cu dispersie energetică (EDX) și incintă de izolare nucleară, pentru Laboratorul de criminalistică nucleară	14.10.20
Microscop electronic prin transmisie pentru caracterizari microstructurale în contrast de difractie, tomografie cu fascicul de electroni si experimente in-situ în domeniul de temperaturi -195 ÷ +1000°C
Incinte, Transport Fascicul și Sistem de Vid pentru 100TW — VEBTVS100 (Vacuum Enclosures, Beam Transport and Vacuum System for 100TW)	14.05.18
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”.	20.11.17
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice şi accesorii, cu transport, instalare, punere în funcţiune, instruire