Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”

Data publicarii

17.10.17 Exista 2.482 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38511100-1 51430000-5 79632000-3

Termenul limita pentru depunere:

20.11.17

Pretul estimativ:

3.220.000,00 RON

Documente participare:

2-179816.zip

Locul realizarii:

Ilfov

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Microscopul electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” va fi utilizat pentru studiul suprafetelor materialelor. Metoda este cunoscuta sub denumirea de Scanning Electron Microscopy (SEM) si este utilizata pentru studiul morfologiei suprafetelor si analiza compozitiei chimice a materialelor volumice, micro sau nanostructurate

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”.	20.11.17
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice şi accesorii, cu transport, instalare, punere în funcţiune, instruire
Achizitia unui microsscop electronic cu scanare (SEM)	05.08.16
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (SEM-FIB)	21.11.23
Laser acordabil in domeniul spectral IR” cu transport, instalare, punere in functiune si instruire”
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) de înaltă rezoluţie echipat cu detector de raze X cu dispersie energetică (EDX) și incintă de izolare nucleară, pentru Laboratorul de criminalistică nucleară
Microscop electronic de baleiaj cu fascicul focalizat de ioni (SEM-FIB)
Intervenţie de service cu înlocuire de componente la microscopul electronic Nova NanoSEM 630
Microscop electronic cu baleiaj si microsonda cu electroni (SEM-EDX)