Feedback
I.D.: 81278198

Îmbunătățire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy stm) aarhus 150 în vederea dotării cu facilități de microscopie de forță atomică (atomic force microscopy afm), rezultând un sistem de tip spm (scanning probe microscopy)

Data publicarii
25.04.23 Exista 11.599 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.
Coduri CPV
38514200 51430000 80510000
Locul realizarii:
Bucureşti - Ilfov
  • Descarca
  • Tipareste
  • Observatii
    Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
  • Trimite
Descriere:
Microscoape cu sondă de scanare Installation services of laboratory equipment Specialist training services
Text integral:
Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!
 

De ce licitatie-publica.ro?

  • Oportunitati de afaceri selectionate
    individual

  • Anunturi scanate si actualizate
    din peste 3200 surse publice si private

  • Manager de cont personal - chiar si
    in timpul testarii gratuite

  • Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul Data inchiderii
Îmbunătățire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy stm) aarhus 150 în vederea dotării cu facilități de microscopie de forță atomică (atomic force microscopy afm), rezultând un sistem de tip spm (scanning probe microscopy) 13.03.23
Îmbunătăţire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilităţi de microscopie de forţă atomică (atomic force microscopy AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy) 13.03.23
Licitatii Viitoare - Îmbunătăţire (upgrade) microscop cu efect tunel (STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilităţi de microscopie de forţă atomică (AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy) (PAAP-2023) 30.11.23
Consumabile (AFM) Microscop de forta atomica WITT30 (conform specificatiitehnice din atasament) 19.08.19
Furnizarea, instalarea, punere in functiune, intretinere „Microscop electronic cu scanare si Sistem AFM” si instruire personal.  
Furnizare, instalare, punere in functiune, intretinere „microscop electronic cu scanare si sistem AFM” si instruire personal. 02.02.15
Suporturi probe pentru microscopie cu efect tunel  
ACCESORII/PIESE SCHIMB PENTRU MICROSCOP , utilizate pentru microscopia de forta atomica 27.11.18
MICROSCOP CU FORTA ATOMICA 10.12.14
Microscop de forta atomica