Feedback
I.D.: 145943

Echipamente de laborator "Spectroscopie cu plasma cuplata si de masa (ICP-MS), Microscop cu forta atomica (AFM) si Echipament pentru masuri mecanice de inalta precizie-NANOIDENTER-NANOSCRACHER”

Data publicarii
05.09.13 Exista 71.920 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.
Coduri CPV
38000000-5 38425700-7 38433100-0 38514200-3
Termenul limita pentru depunere:
22.10.13
 
 
Documente participare:
  1. 6_Caiet de sarcini.doc
  2. 19_Contract .doc
  3. Modele formulare.rar
Locul realizarii:
Dâmboviţa
  • Descarca
  • Tipareste
  • Observatii
    Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
  • Trimite
Descriere:
Echipamente de laborator "Spectroscopie cu plasma cuplata si de masa (ICP-MS), Microscop cu forta atomica (AFM) si Echipament pentru masuri mecanice de inalta precizie-NANOIDENTER-NANOSCRACHER”
Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!
 

De ce licitatie-publica.ro?

  • Oportunitati de afaceri selectionate
    individual

  • Anunturi scanate si actualizate
    din peste 3200 surse publice si private

  • Manager de cont personal - chiar si
    in timpul testarii gratuite

  • Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul Data inchiderii
Echipamente de laborator „Spectroscopie cu plasma cuplata si de masa (ICP-MS), Microscop cu forta atomica (AFM) si Echipament pentru masuri mecanice de inalta precizie-NANOIDENTER-NANOSCRACHER”  
Licitatii Viitoare - Îmbunătăţire (upgrade) microscop cu efect tunel (STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilităţi de microscopie de forţă atomică (AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy) (PAAP-2023) 30.11.23
Îmbunătăţire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilităţi de microscopie de forţă atomică (atomic force microscopy AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy) 13.03.23
Achiziție Microscop de Forță Atomică (AFM) cu viteza mare de scanare  
Microscop de forţă atomică nGauge AFM mobil, laptop 1 buc  
Achiziție microscop de forță atomică (AFM) cu viteză mare de scanare  
Lotul 1 : Microscop de Forta Atomica cuplat cu Spectrometru Raman Confocal; Lotul 2: Microscop inversat Confocal de fluorescenta cu 4 laseri+laser in impulsuri si modul 2 fotoni  
Lotul 1 : Microscop de Forta Atomica cuplat cu Spectrometru Raman Confocal; Lotul 2: Microscop inversat Confocal de fluorescenta cu 4 laseri+laser in impulsuri si modul 2 fotoni 08.04.15
Achizitia a 2 loturi:Lot 1 ICP-MS/MP-AES (spectrometrie atomica cu plasma cu limita de detectie scazuta - sub-ppb - si interconectivitate la GC, LC, CE), Lot 2 Capillary Electrophoresis System (CZE and CEC) (electroforeza capilara de inalta performanta) 07.11.14
Achizitia a 2 loturi:Lot 1 ICP-MS/MP-AES (spectrometrie atomica cu plasma cu limita de detectie scazuta - sub-ppb - si interconectivitate la GC, LC, CE), Lot 2 Capillary Electrophoresis System (CZE and CEC) (electroforeza capilara de inalta performanta)