Difractometru de raze X tip ”benchtop” cu transport, instalare, punere in functiune si instruire”

Data publicarii

04.12.17 Exista 12.429 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38500000-0

Pretul estimativ:

277.809,00 RON

Locul realizarii:

Ilfov

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Difractometru de raze X tip ”benchtop” va fi utilizat pentru studiul structurii cristaline (procent cristalinitate, analiza calitativa de faza etc) a straturilor subtiri si a materialelor in volum.

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.	21.09.17
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive	21.09.17
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.
Difractometru de raze X cu viteză mare de achiziţie a datelor pentru analiza structurală a materialelor policristaline la temperaturi de la -190 °C la 600 °C
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”.	20.11.17
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice şi accesorii, cu transport, instalare, punere în funcţiune, instruire
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”	20.11.17
Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”
Laser acordabil in domeniul spectral IR” cu transport, instalare, punere in functiune si instruire”