Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.

Data publicarii

12.08.17 Exista 86.657 licitatii active asemanatoare. Inregistrati-va pentru a avea acces la acestea.

Coduri CPV

38530000 51430000 80510000

Termenul limita pentru depunere:

21.09.17 16:00

Pretul estimativ:

1.890.756,00 RON

Locul realizarii:

Ilfov, Mehedinţi

Descarca
Tipareste
Observatii
Adaugati favorite, invitatii si note. Aceste functii sunt disponibile doar pentru utilizatorii logati in platforma. Logati-va sau inregistrati-va la o Testare Gratuita pentru a avea acces.
Trimite

Descriere:

Furnizarea, instalarea si punerea in functiune cu instruirea personalului utilizator a unui Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.

Text integral:

Inregistrati-va acum pentru un test gratuit de 7 zile
si veti putea vizualiza aceasta licitatie si multe altele asemanatoare!

De ce licitatie-publica.ro?

Oportunitati de afaceri selectionate
individual
Anunturi scanate si actualizate
din peste 3200 surse publice si private
Manager de cont personal - chiar si
in timpul testarii gratuite
Transmiterea zilnica a anunturilor noi

Contul meu

Vezi licitatii asemanatoare

Titlul	Data inchiderii
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive	21.09.17
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive
Difractometru de raze X tip ”benchtop” cu transport, instalare, punere in functiune si instruire”
Difractometru de raze X cu viteză mare de achiziţie a datelor pentru analiza structurală a materialelor policristaline la temperaturi de la -190 °C la 600 °C
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.	25.11.14
Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri.	25.02.15
Service preventiv si corectiv al echipamentului Sistem XRD compus din: Difractometru D8 advance, producator Bruker AXS GmbH , seria 203946 si cu sistem de racire apa/aer, tip ERL 1000	16.07.18
Sistem de ghidare a fasciculului laser de 1PW în vid	20.11.19