Microscopul electronic cu scanare (SEM) este destinat caracterizarii microstructurale si morfologice a unor pulberi si acoperiri nanostructurate anorganice, cu aplicatii in domeniul energeticii neconventionale si stocarii energiei termice. Sistemul trebuie sa asigure o rezolutie de cel putin 3 nm si o marire de pana la 1.000.000 de ori, putand lucra in vid inaintat sau slab si sa fie versatil pentru a fi utilizat si la alte...

Microscopul electronic cu scanare (SEM) este destinat caracterizarii microstructurale si morfologice a unor pulberi si acoperiri nanostructurate anorganice, cu aplicatii in domeniul energeticii neconventionale si stocarii energiei termice. Sistemul trebuie sa asigure o rezolutie de cel putin 3 nm si o marire de pana la 1.000.000 de ori, putand lucra in vid inaintat sau slab si sa fie versatil pentru a fi utilizat si la alte tipuri de materiale nanostructurate anorganice. Echipamentul trebuie sa permita: - controlul automat pentru vid si operare; - procesarea imaginii inregistrata de microscopul electronic in vederea reducerii zgomotului de fond, al controlului de contrast si corectiei de umbre; - masurarea coordonatelor punctuale inclusiv grosimea stratului analizat; - scanarea 3D a probei din diferite unghiuri; - analiza morfologiei obiectelor inregistrate; - analiza suprafetei particulelor, observarea proceselor dinamice (topire, sublimare, cristalizare, deshidratare…) pe suprfata probelor analizate; - masurarea duritatii suprafetelor analizate prim metoda Vickers si Brinell. Optional sistemul sa poata fi dotat cu detector de electroni de difractie de raze X (EDX) pentru analiza chimica calitativa a probei scanate.

Arata tot

Arata mai putin