In cadrul proiectului 32PFE „Cresterea capacitatii si performantei institutionale a INCDTIM Cluj-Napoca”, acronim CRESC-ITIM, se va acvhizitiona un Microscopul de Forţă Atomică (AFM) cu scanare rapida, destinat cercetărilor pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor etc., Microscopul de Forţă Atomică este dest...
In cadrul proiectului 32PFE „Cresterea capacitatii si performantei institutionale a INCDTIM Cluj-Napoca”, acronim CRESC-ITIM, se va acvhizitiona un Microscopul de Forţă Atomică (AFM) cu scanare rapida, destinat cercetărilor pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor etc., Microscopul de Forţă Atomică este destinat cercetărilor necesare pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor.