Se va achizitiona un microscop de forţă atomică (AFM) cu scanare rapida, destinat cercetărilor pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor etc., In cadrul proiectului 32PFE „Cresterea capacitatii si performantei institutionale a INCDTIM Cluj-Napoca”, acronim CRESC-ITIM, se va achizitiona un microscop de forţă a...
Se va achizitiona un microscop de forţă atomică (AFM) cu scanare rapida, destinat cercetărilor pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor etc., In cadrul proiectului 32PFE „Cresterea capacitatii si performantei institutionale a INCDTIM Cluj-Napoca”, acronim CRESC-ITIM, se va achizitiona un microscop de forţă atomică (AFM) cu scanare rapida, destinat cercetărilor pentru caracterizarea materialelor prin scanarea suprafeţelor, cu înaltă rezoluţie, pentru studiul materialelor nanostructurate, filmelor subţiri, polimerilor etc.