Sistemul trebuie să permită vizualizarea cu rezoluţie atomică atât a suprafeţelor conductoare prin metoda STM, cât şi a suprafeţelor izolatoare prin metoda AFM non-contact, la temperatură variabilă între 150 şi 400 grade Kelvin. Electronica de control va trebui să fie de zgomot redus şi stabilitate ridicată, de tip NanonisTM sau echivalent. Suporturile pentru probe vor trebui să fie compatibile cu sistemele de transfer SPEC...

Sistemul trebuie să permită vizualizarea cu rezoluţie atomică atât a suprafeţelor conductoare prin metoda STM, cât şi a suprafeţelor izolatoare prin metoda AFM non-contact, la temperatură variabilă între 150 şi 400 grade Kelvin. Electronica de control va trebui să fie de zgomot redus şi stabilitate ridicată, de tip NanonisTM sau echivalent. Suporturile pentru probe vor trebui să fie compatibile cu sistemele de transfer SPECS SH2/12. Funcţionarea va fi asigurată în condiţii de vid ultraînalt, de la 10–7 la 10–11 mbar. Sistemul va trebui să fie livrat cu software de achiziţie şi analize de imagini. Pe lângă imagistica cu rezoluţie atomică, sistemul STM va permite investigarea spectroscopică a densităţilor de stări ocupate şi neocupate, spectroscopii pe molecule izolate, manipularea atomică, iar sistemul AFM spectroscopia de forţă pe molecule izolate sau pe arii nanoscopice sau măsurători de tip "Kelvin probe microscopy". Sistemul va trebui să permită accesul la probă în timpul măsurătorilor pentru experimente implicand iradierea probelor sau evaporarea diferiţilor produşi pe acestea. Viteza de baleiere va trebui să poată fi suficient de rapidă pentru realizarea de clip-uri video cu transformările suprafeţelor în timp real (de ordinul minutelor).

Arata tot

Arata mai putin